Browse "School of Electrical Engineering(전기및전자공학부)" by Author 경기명
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| Infrared sensor chip, infrared detector and an operating method and test method therefor 나노종합기술원; 김희연; 김경민; 김병일; 경기명; 박재홍; 이귀로; et al, 2017-04-05 |
| 불순물 확산을 사용하는 CMOS 공정 = CMOS process using impurity diffusionlink 경기명; Kyung, Ki-Myung; et al, 한국과학기술원, 2000 |
| 적외선 센서칩, 적외선 감지기, 이의 동작 방법 및 테스트 방법 김희연; 김경민; 김병일; 경기명; 박재홍; 이귀로; 김경태, 2015-05-06 |
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- 573 OA Article
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- 5,421 2020 - 2024
- 18,944 2010 - 2019
- 15,019 2000 - 2009
- 7,644 1990 - 1999
- 2,391 1980 - 1989