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A study of multi-gate nanowire structure fabrication and reliability on the condition of negative bias temperature instability = 다중 게이트 나노와이어 구조의 제작 및 Negative Bias Temperature Instability 관점에서의 신뢰도 연구link

Lee, Hyun-Jin; 이현진; et al, 한국과학기술원, 2007

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