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X-ray irradiation induced damage in MOS structures and it's effect on oxide reliability Lee, Kwyro; Han, Chul-Hi; Kim, Shi-Ho; Lee, Ho-Jun; Choi, Sang-Soo; Jeon, Young-Jin; Fabrizio, Enzo Di; et al, Technical Digest of 3rd International Conference on VLSI and CAD, pp.20 - 23, 1993 |
결정방향과 수직전장에 따른 MOS 표면 전자이동도의 변화 최주선; 이귀로, 반도체 재료 및 부품연구회, 씨에이디 연구회 합동 학술발표회, 대한전자공학회, 1989 |
이동통신 시스템을 위한 Digital Data Processor의 설계 이귀로; 권형준; 이석준, 대한전자공학회 학술대회 , pp.163 - 164, 대한전자공학회, 1994 |
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