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Unified CMOS Model for Circuit Simulation Fjeldly, T. A.; Shur, M.; Ytterdal, M. S.; Lee, Kwyro, Proc. of 1st Int. Device Reseach Symposium, v.35, no.12, pp.407 - 410, Elsevier, 1992 |
Unified I-V Model and Parameter Extraction of Submicron nMOSFET for Circuit Simulaton and Statistical Process Characterization Lee, Kwyro; Park, C.K.; Moon, B.J.; Shur, M., VLSI Process/Device Modeling Workshop, pp.144 - 145, 1990 |
Unified model for on-chip interconnects Yu, S.; Sim, S.-P.; Krishnan, S.; Petranovic, D.M.; Lee, Kwyro; Yang, C.Y., 2004 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology, v.2, pp.1026 - 1031, 2004-10-18 |
Unizxial Stress Dependent I-V Characteristics of GaAs-AlxGa1-xGaAs Single Tunnel Barrier at 77K Lee, Kwyro; Lu, S.S.; Nathan, M.I.; Heiblum, M.; Wright, S.L., Proc. of 4th Int. Conf. on Modulation Doped Semiconductor Structures, pp.671 - 676, 1989 |
VLSI Neural Network과 Trimming Analog 회로를 위한 고속, 고분해능 CMOS 아날로그 메모리 이귀로; 김규현, 대한전자공학회 학술대회 , pp.139 - 140, 대한전자공학회, 1995 |
X-ray irradiation induced damage in MOS structures and it's effect on oxide reliability Lee, Kwyro; Han, Chul-Hi; Kim, Shi-Ho; Lee, Ho-Jun; Choi, Sang-Soo; Jeon, Young-Jin; Fabrizio, Enzo Di; et al, Technical Digest of 3rd International Conference on VLSI and CAD, pp.20 - 23, 1993 |
결정방향과 수직전장에 따른 MOS 표면 전자이동도의 변화 최주선; 이귀로, 반도체 재료 및 부품연구회, 씨에이디 연구회 합동 학술발표회, 대한전자공학회, 1989 |
이동통신 시스템을 위한 Digital Data Processor의 설계 이귀로; 권형준; 이석준, 대한전자공학회 학술대회 , pp.163 - 164, 대한전자공학회, 1994 |
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