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Analysis of Dielectric Properties of the Interfacial Layers in Ba0.7Sr0.3TiO3/Pt Structures 이희철; 이승훈; 곽동화; 장병탁; 차선용; 유병곤; 백종태, JOURNAL OF THE KOREAN INSTITUTE OF TELEMATICS AND ELECTRONICY, v.33, no.8, pp.132 - 137, 1996-08 |
Ba0.7, Sr0.3, Tio3 박막 커패시터의 마이크로파 측정. 장병탁; 차선용; 이승훈; 곽동화; 이희철; 유병곤; 백종태; et al, 전자공학회논문지 A, v.33, no.2, pp.114 - 121, 1996 |
Ba0.7Sr0.3TiO3 박막 커패시커의 마이크로파 측정 장병탁; 차선용; 이승훈; 곽동화; 이희철; 유병곤; 백종태; et al, JOURNAL OF THE KOREAN INSTITUTE OF TELEMATICS AND ELECTRONICY, v.33, no.2, pp.114 - 121, 1996-01 |
Ba0.7Sr0.3TiO3/Pt 구조의 계면층 유전특성 분석 이승훈; 곽동화; 장병탁; 차선용; 이희철; 유병곤; 백종태, 전자공학회논문지 A, v.33, no.8, pp.132 - 137, 1996-08 |
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