조합 시험 설계를 이용한 소프트웨어 제품라인 시험항목 생성 방법Software Product Line Test Cases Derivation Using Combinatorial Test Design
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 백하은 | ko |
| dc.contributor.author | 강성원 | ko |
| dc.contributor.author | 이지현 | ko |
| dc.date.accessioned | 2015-04-08T02:34:52Z | - |
| dc.date.available | 2015-04-08T02:34:52Z | - |
| dc.date.created | 2014-12-27 | - |
| dc.date.created | 2014-12-27 | - |
| dc.date.issued | 2014-07 | - |
| dc.identifier.citation | 정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용, v.41, no.7, pp.469 - 480 | - |
| dc.identifier.issn | 1229-6848 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/195491 | - |
| dc.description.abstract | 소프트웨어 제품라인은 제품들 간의 공통성 및 가변성을 전체 개발라이프사이클에 걸쳐 체계적으로 계획하고 재사용하여 생산성 향상, 비용절감, 시장적시성 향상을 꾀하는 소프트웨어 개발 패러다임이다. 소프트웨어 제품라인이 가져다 주는 이익을 최대화하기 위하여 시험은 도메인 공학과 어플리케이션 공학의 두 라이프사이클을 구성하는 프로세스들과 일관된 방식으로 통합되어야 하며, 더불어 시험 노력을 절감할 수 있어야 한다. 본 논문에서는 조합 시험 설계를 적용하여 제품라인 플랫폼을 시험할 시험항목을 생성함으로써 시험항목 개수를 상당히 줄이면서 동시에 재사용이 용이한 시험항목 생성을 지원하여 시험노력을 절감할 수 있는 조합 시험 설계를 이용한 제품라인 시험항목 생성 방법을 제안한다. 또한, 사례연구를 통하여 제안한 방법이 조합 설계를 이용하거나 그렇지 않은 기존의 다른 방법들 보다 효율적임을 보인다. | - |
| dc.language | Korean | - |
| dc.publisher | 한국정보과학회 | - |
| dc.title | 조합 시험 설계를 이용한 소프트웨어 제품라인 시험항목 생성 방법 | - |
| dc.title.alternative | Software Product Line Test Cases Derivation Using Combinatorial Test Design | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.type.rims | ART | - |
| dc.citation.volume | 41 | - |
| dc.citation.issue | 7 | - |
| dc.citation.beginningpage | 469 | - |
| dc.citation.endingpage | 480 | - |
| dc.citation.publicationname | 정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용 | - |
| dc.identifier.kciid | ART001895867 | - |
| dc.contributor.localauthor | 강성원 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 이지현 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | SPL testing | - |
| dc.subject.keywordAuthor | combinatorial test design(CTD) | - |
| dc.subject.keywordAuthor | pairwise combination testing | - |
| dc.subject.keywordAuthor | test case reuse | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 소프트웨어 제품라인 시험 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 조합 시험 설계(CTD) | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 두벌 조합 시험 | - |
| dc.subject.keywordAuthor | 시험항목 재사용 | - |
- Appears in Collection
- CS-Journal Papers(저널논문)
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.