소프트웨어 제품 라인에서 외부 실패비용을 기반으로 한 단위 테스트 전략External failure cost based unit test strategy of software product line
- Advisors
- 배두환researcher; Bae, Doo-Hwan
- Description
- 한국과학기술원 : 전산학과,
- Publisher
- 한국과학기술원
- Issue Date
- 2012
- Identifier
- 487461/325007 / 020103242
- Language
- kor
- Description
학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전산학과, 2012.2, [ v, 40 p. ]
- Keywords
단위 테스트; 소프트웨어 제품라인; 외부실패비용; 도메인 테스트; software product line; unit test; external failure cost; domain test; test case allocation; 테스트 케이스 할당
- Appears in Collection
- CS-Theses_Master(석사논문)
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