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A highly bendable thin film encapsulation by the modulation of thermally induced interfacial residual stress Park, Yong Cheon; Kim, Taehyun; Shim, Hye Rin; Choi, YoungWoo; Hong, Seungbum; Yoo, Seunghyup; Im, Sung Gap, APPLIED SURFACE SCIENCE, v.598, 2022-10 |
Origin of residual stress and its relationship with crystallographic orientation of sputtered thin films = 스퍼터링법으로 증착한 박막의 잔류응력 생성 원인 및 결정 방향성과의 관계link Choi, Han-Mei; 최한메; et al, 한국과학기술원, 1999 |
스퍼터링법으로 증착한 알루미늄 박막의 잔류응력에 따른 결정 배향성이 전기적성질에 미치는 영향 = Effect of crystallographic orientation affected by residual stress on electrical property of Al thin films deposited by sputteringlink 김석필; Kim, Suk-Pil; et al, 한국과학기술원, 1997 |
폴리이미드 위에 스퍼터 증착한 Cr 및 Cu 박막의 잔류응력에 관한 연구 = A study on the residual stress of Cr & Cu thin films sputtered onto polyimidelink 김관수; Kim, Kwan-Soo; et al, 한국과학기술원, 1996 |
화학증착법으로 제조한 다이아몬드막에서의 잔류응력에 관한 연구 = A study of residual stresses on CVD diamond filmslink 김정근; Kim, Jung-Geun; et al, 한국과학기술원, 1998 |
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