Logical Clock을 이용한 분산 시험

Abstract

분산 시스템 (distributed system)을 시험할 때, 병렬 이벤트들 (concurrent events)을 제어 할 수 없다면 정확한 시험 결과를 얻어내기 어렵다. 기존의 분산 시험 방법은 정형적 방법으로 test sequence 생성 알고리즘을 제시하지 못하거나 동기화를 위한 부가적 메시지의 양이 많은 단점이 있었다. 본 논문에서는 병렬 이벤트 제어를 위해 logical clock을 이용한 정형적 test sequence 생성 알고리즘을 제시한다. 이 알고리즘은 제어-관찰 문제를 해결하고 시험 결과를 재현할 수 있다. 또한 어떠한 통신 패러다임에서도 적용될 수 있는 일반적 해결 방법을 제공한다. 분산 시험 방법에서는 분산 객체가 증가할수록 시험기 사이의 채널이 비선형 (non-linearly)으로 증가하는 단점이 있다. 이 단점을 극복하고자 원격 시험방법 (remote test method)의 시험 구조를 제안한다. 제안된 알고리즘의 검증을 위해 SDL 도구를 사용하고, Q.2971 망 부분 (network side) 일 대 다 호/연결 설정을 위한 메시지 교환에 적용한다.