유전 알고리즘을 이용한 테스트 패턴의 기법Test Pattern Improvement Using a Genetic Algorithm
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박휴찬 | - |
| dc.contributor.author | 김탁곤 | - |
| dc.date.accessioned | 2009-12-04T08:27:26Z | - |
| dc.date.available | 2009-12-04T08:27:26Z | - |
| dc.date.created | 2012-02-06 | - |
| dc.date.issued | 1992-11 | - |
| dc.identifier.citation | 대한전자공학회 추계종합학술대회, v.15, no.2, pp.576 - 579 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/14207 | - |
| dc.language | KOR | - |
| dc.language.iso | ko | en |
| dc.publisher | 대한전자공학회 | - |
| dc.title | 유전 알고리즘을 이용한 테스트 패턴의 기법 | - |
| dc.title.alternative | Test Pattern Improvement Using a Genetic Algorithm | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.type.rims | CONF | - |
| dc.citation.volume | 15 | - |
| dc.citation.issue | 2 | - |
| dc.citation.beginningpage | 576 | - |
| dc.citation.endingpage | 579 | - |
| dc.citation.publicationname | 대한전자공학회 추계종합학술대회 | - |
| dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
| dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
| dc.contributor.localauthor | 김탁곤 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박휴찬 | - |
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- EE-Conference Papers(학술회의논문)
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