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Depth-Dependent Resonant Soft X-ray Kerr Effects in Exchange-Biased NiFe/FeMn/Co/Pd films 김상국; 이기석; Kortright, J.B.; 김광윤; 신성철, 한국물리학회 봄학술논문발표회, 한국물리학회, 2003-04 |
Element-and depth-resolved exchange bias: likely exchange bias origin 이기석; 김상국; Kortright, J.B.; 장성호; 김광윤; 신성철, 한국자기학회 하계학술연구발표회 및 한일공동심포지움, pp.132 - 133, 한국자기학회, 2003 |
자화 동역학의 원리 및 최신 연구 동향 김상훈; 김덕호; 김준서; 문경웅; 이기석; 최석봉; 김갑진, 한국자기학회지, v.28, no.2, pp.75 - 91, 2018-04 |
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