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레이저 간섭계에 의한 연필심 파괴시 발생하는 과도파 측정 = Absolute measurements of displacement due to pencil lead breaking using laser interferometer systemlink 김선철; Kim, Sun-Chul; et al, 한국과학기술원, 1985 |
실리콘 웨이퍼에서 변조된 광 반사율의 3차원적 해석 = The 3-dimensional analysis of photoreflectance in silicon waferslink 김선철; Kim, Sun-Chul; 남창희; 김호철; et al, 한국과학기술원, 1995 |
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