유전알고리즘을 이용한 테스트 패턴의 기법
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김탁곤 | - |
| dc.contributor.author | 박휴찬 | - |
| dc.date.accessioned | 2013-03-14T04:35:34Z | - |
| dc.date.available | 2013-03-14T04:35:34Z | - |
| dc.date.created | 2012-02-06 | - |
| dc.date.issued | 1992 | - |
| dc.identifier.citation | 대한전자공학회 추계종합학술대회, v., no., pp.576 - 579 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/105310 | - |
| dc.language | KOR | - |
| dc.title | 유전알고리즘을 이용한 테스트 패턴의 기법 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.type.rims | CONF | - |
| dc.citation.beginningpage | 576 | - |
| dc.citation.endingpage | 579 | - |
| dc.citation.publicationname | 대한전자공학회 추계종합학술대회 | - |
| dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
| dc.identifier.conferencecountry | South Korea | - |
| dc.contributor.localauthor | 김탁곤 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박휴찬 | - |
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