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Density functional theory based study of effects of heterojunction and oxide interface traps on III-V FETs = III-V 이종접합 및 옥사이드 계면 트랩의 영향에 대한 제일원리 기반의 모델링 및 소자 시뮬레이션link

Cho, Yucheol; Shin, Mincheol; et al, 한국과학기술원, 2020

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