Browse by Subject 동시 스위칭 전류▼a메모리 테스트▼a신호 무결성▼a아이다이어그램 복원▼a임베디드 전류 프로브 구조▼a자기 결합▼a전류 파형 복원▼a전원 무결성▼a테스트 인터포저
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| Non-invasive measurement and reconstruction methods for high-speed integrated IC and package = 고속 집적회로와 패키지 테스트를 위한 비파괴성 측정 및 신호 복원 기법link Kim, Jonghoon; Kim, Joungho; et al, 한국과학기술원, 2017 |
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