Showing results 3 to 5 of 5
Recrystallization-induced void migration in electroplated Cu films Kim, Sung-Hwan; Yu, Jin, SCRIPTA MATERIALIA, v.67, no.4, pp.312 - 315, 2012-08 |
두꺼운 복합재 평판의 기공에 의한 기계적 물성 저하와 비파괴적 평가 = Degradation of mechanical properties due to void in thick composite laminates and its nondestructive evaluationlink 권규남; Kwon, Kyu-Nam; et al, 한국과학기술원, 2002 |
초박형 반도체 패키지의 EMC encapsulation을 위한 경화 공정 개발 Park, Seong Yeon; On, Seung Yoon; Kim, Seong Su, COMPOSITES RESEARCH, v.34, no.1, pp.47 - 50, 2021-02 |
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