전해도금 Cu와 Sn-3.5Ag 솔더 접합부의 Kirkendall void 형성과 충격 신뢰성에 관한 연구A study of Kirkendall Void Formation and Impact Reliability at the Electroplated Cu/Sn-3.5Ag Solder Joint

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dc.contributor.author김종연ko
dc.contributor.author유진ko
dc.date.accessioned2013-03-08T10:28:11Z-
dc.date.available2013-03-08T10:28:11Z-
dc.date.created2012-02-06-
dc.date.created2012-02-06-
dc.date.issued2008-03-
dc.identifier.citation마이크로전자 및 패키징학회지, v.15, no.1, pp.33 - 37-
dc.identifier.issn1226-9360-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/92832-
dc.description.abstractKirkendall void는 전해도금 Cu/Sn-Ag 솔더 접합부에서 형성되었으며 Cu 도금욕에 함유되는 첨가제에 의존한다. 첨가제로 사용된 SPS의 함량의 증가와 함께 150oC에서 열처리 후 많은 양의 Kirkendall void가 Cu/Cu3Sn 계면에 존재하였다. AES 분석은 void 표면에 S가 편석되어 있음을 보여주 었다. Cu/Cu3Sn 계면을 따라 파괴된 시편에서 Cu, Sn, S peak만 검출되었고 AES 깊이 프로파일에서 S 는 급격하게 감소하였다. Cu/Cu3Sn 계면에서 S 편석은 계면에너지를 낮추고 Kirkendall void 핵생성을 위한 에너지장벽을 감소시킨다. 낙하충격시험은 SPS를 사용하여 도금된 Cu의 경우 Kirkendall void가 형 성된 Cu/Cu3Sn 계면에서 파괴가 진행되고 급격하게 신뢰성이 감소됨을 보였다.-
dc.languageKorean-
dc.publisher한국마이크로전자및패키징학회-
dc.title전해도금 Cu와 Sn-3.5Ag 솔더 접합부의 Kirkendall void 형성과 충격 신뢰성에 관한 연구-
dc.title.alternativeA study of Kirkendall Void Formation and Impact Reliability at the Electroplated Cu/Sn-3.5Ag Solder Joint-
dc.typeArticle-
dc.type.rimsART-
dc.citation.volume15-
dc.citation.issue1-
dc.citation.beginningpage33-
dc.citation.endingpage37-
dc.citation.publicationname마이크로전자 및 패키징학회지-
dc.identifier.kciidART001232872-
dc.contributor.localauthor유진-
dc.contributor.nonIdAuthor김종연-
dc.subject.keywordAuthorPb-free solder-
dc.subject.keywordAuthorCu-
dc.subject.keywordAuthorKirkendall void-
dc.subject.keywordAuthorSulfur-
dc.subject.keywordAuthorsegregation-
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MS-Journal Papers(저널논문)
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