| 1 | ECR-PECVD 법으로 제조한 PZT 박막의 물성 연구 = Characteriszation of PZT thin films prepared by ECR-PECVDlink 김재환; Kim, Jae-Whan; 위당문; 이원종; Wee, Dang-Moon; Lee, Won-Jong, 한국과학기술원, 1996 |
| 2 | ECR-PECVD PZT 박막의 FRAM 소자로의 응용에 관한 연구 = The study on the applicaions to FRAM with PZT thin film fabricated by ECR-PECVDlink 정수옥; Chung, Su-Ock; 이원종; 천성순; Lee, Won-Jong; Chun, Soung-Soon, 한국과학기술원, 2000 |
| 3 | FRAM 소자 응용을 위한 ECR PECVD PZT 커패시터 특성에 미치는 전극의 영향 = Effect of electrodes on the characteristics of ECR PECVD PZT capacitors for the application to FRAM deviceslink 이희철; Lee, Hee-Chul; 이원종; Lee, Won-Jong, 한국과학기술원, 2002 |
| 4 | 고집적 DRO FRAM 소자용 PZT 박막 캐패시터의 신뢰성 연구 = Reliability study in PZT thin film capacitors for high-density DRO FRAM deviceslink 이강운; Lee, Kang-Woon; 이원종; Lee, Won-Jong, 한국과학기술원, 2003 |
| 5 | 수열합성법으로 증착한 PZT 박막의 강유전성 및 전왜 특성 연구 = Study of the ferroelectricity and electrostriction of PZT thin film fabricated by hydrothermal synthesislink 유동주; You, Dong-Joo; 최시경; Choi, Si-Kyung, 한국과학기술원, 2004 |
| 6 | Ferroelectric domain imaging of $Pb(Zr,Ti)O_3$ thin films using atomic force microscope = Atomic Force Microscope를 이용한 $Pb(Zr,Ti)O_3$ 박막의 도메인 관측 및 분석link Hong, Seung-Bum; 홍승범; No, Kwang-Soo; 노광수, 한국과학기술원, 2000 |
