다결정질 규소 박막 트랜지스터에서 바이어스에 의해 나타나는 열화에 대한 연구Bias-induced degradation of poly-silicon thin film transistor
- Advisors
- 이주천; Lee, Choo-Chon
- Description
- 한국과학기술원 : 물리학과,
- Publisher
- 한국과학기술원
- Issue Date
- 1994
- Identifier
- 69114/325007 / 000923532
- Language
- kor
- Description
학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 물리학과, 1994.2, [ 39 p. ]
- Appears in Collection
- PH-Theses_Master(석사논문)
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.