광산란법에 의한 광섬유의 굴절율 분포 측정On the measurements of optical fiber refractive index profile

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광섬유의 굴절율 분포를 측정하는 방법은 단면조사와 측면조사로 대별할 수 있으나 비파괴시험과 축을 따라 굴절율 분포가 변화하는 것을 알기 위해 서는 측면 조사인 광산란 방법이 사용 되어야 한다. 광산란 방법을 수치해석과, 기하광학 해석을 하였으며 전면 산란의 진폭 변조 효과를 이용하여 측정을 한 결과 오차의 한계 내에서 이론과 잘 조화 되었다. 여러가지 방법들의 정량적 비교를 위하여 측정 감도 ( Sensitivity)를 정의하여 그 방법이 가진 고유의 측정 난이도를 수치화 하였다. 계단구조 (step index) 광섬유에 대해서만 연구 되었으나, 임의의 구조를 갖는 광섬유의 굴절을 분포 측정이 앞으로의 과제이다.
Advisors
나정웅Ra, Jung-Woong
Description
한국과학기술원 : 전기 및 전자공학과,
Publisher
한국과학기술원
Issue Date
1979
Identifier
62467/325007 / 000771082
Language
kor
Description

학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기 및 전자공학과, 1979.2, [ [v], 54 p. ]

URI
http://hdl.handle.net/10203/39488
Link
http://library.kaist.ac.kr/search/detail/view.do?bibCtrlNo=62467&flag=dissertation
Appears in Collection
EE-Theses_Master(석사논문)
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