전극 접촉 면적 변화에 강인한 피부 전도 반응 측정 방법A method of skin conductance response measurement that is robust again contact area change
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이기혁 | ko |
| dc.contributor.author | 최진혁 | ko |
| dc.date.accessioned | 2022-12-08T01:04:51Z | - |
| dc.date.available | 2022-12-08T01:04:51Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/302076 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 접촉 면적 변화에 강인한 피부 전도 반응 (SCR) 측정 방법에 관한 것으로서, 피부를 통하여 흐르는 전도성 (conductive) 전류와 용량성 (capacitive) 전류 모두 피부와 전극 (electrode) 간의 접촉 면적 (contact area) 에 대체로 비례한다는 점에 착안하여 두 가지 전류를 동시에 측정하고 접촉 면적 파라미터를 제거함으로써 단위 접촉 면적 당 전도성 전류를 추정한다. 즉, 본 발명에서 제안하는 방법은, SCR 측정에서 용량성 전류 및 전도성 전류 양자가 접촉면적에 비례하는데, 전도성 전류만이 생리학적 응답을 반영하는 땀샘 활동을 반영한다는 사실에 기초한 것이다. | - |
| dc.title | 전극 접촉 면적 변화에 강인한 피부 전도 반응 측정 방법 | - |
| dc.title.alternative | A method of skin conductance response measurement that is robust again contact area change | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 이기혁 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 최진혁 | - |
| dc.contributor.assignee | 한국정보통신대학교 산학협력단 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2007-0036485 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-0880980-0000 | - |
| dc.date.application | 2007-04-13 | - |
| dc.date.registration | 2009-01-21 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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