DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 구현지 | ko |
dc.contributor.author | 홍영표 | ko |
dc.contributor.author | 이승경 | ko |
dc.contributor.author | 홍성철 | ko |
dc.contributor.author | 김완식 | ko |
dc.contributor.author | 김소수 | ko |
dc.date.accessioned | 2020-01-15T09:20:15Z | - |
dc.date.available | 2020-01-15T09:20:15Z | - |
dc.date.created | 2020-01-15 | - |
dc.date.issued | 2019-12 | - |
dc.identifier.citation | 한국전자파학회 논문지, v.30, no.12, pp.934 - 944 | - |
dc.identifier.issn | 1226-3133 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/271253 | - |
dc.description.abstract | 본 논문에서는 칩 상에서 multi-line THRU-REFLECT-LINE(mTRL) 교정을 이용 시, 전파상수법을 기초로 한 LINE 표준기의 특성 임피던스 획득 방식의 정확성을 높이기 위한 방법을 제안하였다. 이 방식은 전파상수 법에서 필요한 단위길이 당 캐패시턴스를 전자기 시뮬레이션을 이용하여 구할 때, 기본 기판 정보를 이용하지 않고 mTRL 교정으로 얻은전파상수 측정값과 근접한 결과를 얻도록 유전 정보를 보정한 기판을 이용함으로써, 정확도를 향상시켰다. 상용 off-chip 임피던스 표준기를 이용한 결과와 저주파수 대역에서 비교하여 개선되었음을 검증하였다. 또한, 밀리미터파 대역에서이용되었던 시뮬레이션 결과만으로 특성 임피던스를 얻는 방식을 함께 비교하였고, 전파상수의 측정값을 이용하는 전파상수법이 칩 상의 특성 임피던스를 구하는 데 적합함을 보였다. 최종적으로 CMOS 28 nm 공정을 이용해서 제작한트렌지스터의 고유특성을 110 GHz까지 추출하였고, 사용한 특성 임피던스에 따른 결과 값을 비교하였다. | - |
dc.language | Korean | - |
dc.publisher | 한국전자파학회 | - |
dc.title | 110 GHz까지 CMOS 트렌지스터 평가를 위한 mTRL 교정 표준기 설계 및 특성 임피던스 추출법 | - |
dc.title.alternative | Design of Multi-Line Thru-Reflect-Line Calibration Standards and Extraction Method of Characteristic Impedance for Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Transistor Characterization Up to 110 GHz | - |
dc.type | Article | - |
dc.type.rims | ART | - |
dc.citation.volume | 30 | - |
dc.citation.issue | 12 | - |
dc.citation.beginningpage | 934 | - |
dc.citation.endingpage | 944 | - |
dc.citation.publicationname | 한국전자파학회 논문지 | - |
dc.identifier.kciid | ART002546505 | - |
dc.contributor.localauthor | 홍성철 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 구현지 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 홍영표 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 김완식 | - |
dc.contributor.nonIdAuthor | 김소수 | - |
dc.description.isOpenAccess | N | - |
dc.subject.keywordAuthor | Characteristic Impedance | - |
dc.subject.keywordAuthor | De-Embedding | - |
dc.subject.keywordAuthor | Transistor Characterization | - |
dc.subject.keywordAuthor | TRL Calibration | - |
dc.subject.keywordAuthor | - | - |
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