집적회로INTEGRATED CIRCUIT

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집적회로의 온도를 측정하기 위한 회로에 관한 것으로서, 소스 클록을 입력받아 온도의 변동에 따라 비선형적인 지연량으로 변동시켜 지연 클록으로서 출력하는 클록 지연부와, 지연 클록에 응답하여 그와 동일한 주파수를 갖는 발진 클록을 발진시키되, 온도의 변동에 따라 클록 지연부의 비선형성을 보상하는 방향으로 그 발진 지연량이 변동하는 클록 발진부, 및 소스 클록과 발진 클록의 위상 차이에 따라 온도의 변동을 검출하는 온도 검출부를 구비하는 집적회로를 제공한다.
Assignee
에스케이하이닉스 주식회사,한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Application Date
2013-04-04
Application Number
10-2013-0036706
Registration Date
2019-12-19
Registration Number
10-2059429-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/270351
Appears in Collection
AE-Patent(특허)
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