파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템 및 이를 이용한 방법3D Refractive Index Tomogram and Structured Illumination Microscopy System using Wavefront Shaper and Method thereof
파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템 및 이를 이용한 방법이 제시된다. 파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템을 이용한 방법은, 파면 제어기(Wavefront Shaper)를 이용하여 샘플에 입사되는 평면파의 조사 각도를 조절하는 단계; 상기 평면파의 조사 각도에 따른 상기 샘플을 통과한 2차원 광학장을 측정하는 단계; 및 측정된 상기 2차원 광학장의 정보를 광회절 단층 촬영법(optical diffraction tomography) 또는 여과된 역투사 알고리즘(filtered back projection algorithm)을 이용하여 3차원 굴절률 영상을 획득하는 단계를 포함할 수 있다.
- Assignee
- 주식회사 토모큐브,한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Issue Date
- 2018-06-01
- Application Date
- 2016-06-10
- Application Number
- 10-2016-0072304
- Registration Date
- 2018-06-01
- Registration Number
- 10-1865624-0000
- Appears in Collection
- PH-Patent(특허)
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