파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템 및 이를 이용한 방법 3D Refractive Index Tomogram and Structured Illumination Microscopy System using Wavefront Shaper and Method thereof

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dc.contributor.author박용근ko
dc.contributor.author신승우ko
dc.contributor.author박광식ko
dc.date.accessioned2019-04-15T16:41:02Z-
dc.date.available2019-04-15T16:41:02Z-
dc.date.issued2018-06-01-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/256142-
dc.description.abstract파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템 및 이를 이용한 방법이 제시된다. 파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템을 이용한 방법은, 파면 제어기(Wavefront Shaper)를 이용하여 샘플에 입사되는 평면파의 조사 각도를 조절하는 단계; 상기 평면파의 조사 각도에 따른 상기 샘플을 통과한 2차원 광학장을 측정하는 단계; 및 측정된 상기 2차원 광학장의 정보를 광회절 단층 촬영법(optical diffraction tomography) 또는 여과된 역투사 알고리즘(filtered back projection algorithm)을 이용하여 3차원 굴절률 영상을 획득하는 단계를 포함할 수 있다.-
dc.title파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템 및 이를 이용한 방법-
dc.title.alternative3D Refractive Index Tomogram and Structured Illumination Microscopy System using Wavefront Shaper and Method thereof-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor박용근-
dc.contributor.nonIdAuthor신승우-
dc.contributor.nonIdAuthor박광식-
dc.contributor.assignee주식회사 토모큐브,한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2016-0072304-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1865624-0000-
dc.date.application2016-06-10-
dc.date.registration2018-06-01-
dc.publisher.countryKO-
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