트랜지스터 손상 치료 방법 및 이를 이용한 디스플레이 장치METHOD FOR RECOVERING DAMAGE OF TRANSISTOR AND DISPLAY APPARATUS USING THE SAME

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본 발명에 따른 트랜지스터 손상 치료 방법은, 2개의 게이트 전극을 가지는 복수의 트랜지스터를 포함하는 디스플레이 장치에서의 트랜지스터 손상 치료 방법으로, 상기 복수의 트랜지스터 중 손상된 트랜지스터를 검출하는 단계 및 상기 손상된 트랜지스터의 2개의 게이트 전극에 소정 크기의 전압을 인가해 상기 손상된 트랜지스터에 줄열(joule heat)을 발생시킴으로써 손상을 치료하는 단계;를 포함한다. 이에 의하여, 디스플레이의 사용 중 불균일한 소자 공정에서 야기된 디스플레이용 트랜지스터의 손상 치료가 가능하므로, 심화된 스트레스 환경에서 소자 열화 현상을 매우 짧은 시간의 전기적 신호를 이용해 용이하게 치료할 수 있기 때문에, 디스플레이의 수명을 획기적으로 개선할 수 있다. 아울러, 별도의 추가적인 회로나 공정 변경 없이도 트랜지스터의 손상 치료가 가능하다.
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Issue Date
2018-10-01
Application Date
2016-04-27
Application Number
10-2016-0051352
Registration Date
2018-10-01
Registration Number
10-1905445-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/255232
Appears in Collection
EE-Patent(특허)
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