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Gate bias induced degradation in hydrogenated amorphous silicon thin film transistors = 수소화된 비정질 실리콘 박막 트랜지스터에서 게이트 바이어스에 의해 생성되는 열화현상에 대한 연구link Hwang, Chi-Sun; 황치선; Shin, Sung-Chul; Lee, Choo-Chon; et al, 한국과학기술원, 1996 |
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