이 발명은 무전해도금 공정을 이용하여 TSV(Through-Silicon Via)가 가공된 복수의 칩이 적층된 적층 칩을 접합하는 방법에 관한 것으로서, 복수의 칩을 정렬한 상태에서 무전해도금 공정을 이용하여 TSV 주위를 도금하여 금속 접합부를 형성함으로써, 복수의 칩을 서로 접합한다. 이 발명은 무전해도금 공정을 이용하여 적층 칩의 크기와 TSV의 개수에 무관하게 TSV 주위에 균일한 도금층을 형성할 수 있는 장점이 있다. 또한, 이 발명은 무전해도금 공정의 온도가 낮고 비정질의 도금층이 형성되어 잔류응력과 변형이 발생하지 않으므로 신뢰성이 높은 접합부를 형성할 수 있고, 무전해도금으로 금속 접합부를 형성하므로 전기 전도도와 접합 강도가 우수한 장점이 있다.