나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치METHOD AND APPARATUS FOR STRAIN MEASUREMENT USING OPTICAL PROPERTIES OF NANO MATERIALS

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본 발명은 나노 물질의 광학적 특성을 이용한 변형률 측정 방법 및 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 나노 입자간의 거리가 변화하면, 색깔도 함께 변화하는 현상을 이용하여 물질의 변형률을 측정하는 방법 및 장치에 관한 것이다.본 발명에 의하면, 나노 입자간의 거리가 변화하면 색깔도 함께 변화하는 현상을 이용하여 물질의 변형률을 측정하는 방법 및 장치를 제공하는 효과가 있다.
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Issue Date
2013-05-23
Application Date
2011-06-03
Application Number
10-2011-0054131
Registration Date
2013-05-23
Registration Number
10-1269229-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/233809
Appears in Collection
ME-Patent(특허)
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