지반 탐사 장치 및 이를 이용한 지반 탐사 방법DEVICE FOR INVESTIGATING STRUCTURE OF GROUND AND METHOD FOR INVESTIGATING STRUCTURE OF GROUND USING THE SAME
본 발명에 따른 지반 탐사 장치는 지반의 막장면에 충격을 가하여 탄성파 신호를 보내 상기 지반을 탐사하거나 전자기파 신호를 보내 상기 지반을 탐사하는 탐사부, 그리고 상기 탄성파 신호 또는 상기 전자기파 신호를 보내 상기 지반을 탐사하도록 제어하는 제어부를 포함한다.
- Assignee
- 한국과학기술원
- Country
- KO (South Korea)
- Issue Date
- 2015-07-31
- Application Date
- 2014-05-14
- Application Number
- 10-2014-0057670
- Registration Date
- 2015-07-31
- Registration Number
- 10-1542419-0000
- Appears in Collection
- CE-Patent(특허)
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