X-선 단층 촬영을 이용한 물질 분별 알고리즘 교정 장치

Abstract

본 발명은 X-선 다중에너지(multiple energy)를 이용하여 교정용 피검체의 각도별 투과 영상을 획득하고, 이 획득된 투과 영상을 통해 단층영상을 재구성하여 물질분별 알고리즘에 사용되는 계수를 교정할 수 있도록 한 물질 분별 알고리즘 교정 장치에 관한 것으로, 본 발명에 따른 X-선 단층 촬영을 이용한 물질 분별 알고리즘 교정 장치는, 서로 다른 2개 이상의 다중에너지의 X-선을 방출하는 X-선 발생부와; 상기 X-선 발생부로부터 일정 거리 이격된 위치에 설치되며, 상기 X-선 발생부로부터 방출된 X-선이 조사되는 복수개의 교정용 피검체와; 상기 교정용 피검체를 일정한 속도로 회전시키는 회동수단과; 상기 교정용 피검체를 기준으로 상기 X-선 발생부의 반대편에 설치되어 각각의 에너지마다 상기 교정용 피검체들의 투과영상을 연속적으로 획득하는 선형어레이검출기와; 상기 선형어레이검출기에 의해 획득된 투과영상으로부터 각도별 투과영상을 추출하고, 각도별 투과영상으로부터 단층영상을 재구성하여 단층영상 기반의 물질분별 알고리즘의 계수를 보정하는 교정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.