임계각 및 표면 플라스몬 공명각의 동시 측정 장치 및 방법Apparatus and method for simultaneous measurement of critical and surface plasmon resonance angle

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dc.contributor.author오세백ko
dc.contributor.author홍영주ko
dc.contributor.author박효준ko
dc.contributor.author김수현ko
dc.date.accessioned2017-12-18T04:32:01Z-
dc.date.available2017-12-18T04:32:01Z-
dc.date.issued2008-11-18-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10203/227850-
dc.description.abstract본 발명은 특정 성분의 굴절률(농도) 변화와 시료 전체의 평균 굴절률(농도) 변화를 동시에 측정하여 보다 정확한 측정이 가능하고, 금속 박막에 고정화된 물질의 굴절률이 전반사 유도 매질의 굴절률에 비해 매우 클 경우에도 두 가지 변수를 모두 측정 가능토록 한 임계각 및 표면 플라스몬 공명각의 동시 측정 장치 및 방법을 제공하기 위한 것으로, 일실시예로서 광원(20)과; 상기 광원(20)에서 나온 빛(7)을 측정 범위에 따른 일정 각도 및 편광 상태로 변환시키는 광학장치(21)와; 상기 광학장치(21)를 통과한 입사광을 전반사 반응시키는 전반사 유도 매질(40)과; 상기 전반사 유도 매질(40) 밑면에 일정한 패턴을 갖고 도포되어 상기 측정시료와 접촉하여 SPR 현상을 발생시키는 얇은 금속 박막(41)과; 상기 전반사 유도 매질(40)의 밑면, 금속 박막(41)의 각기 굴절률에 따른 전반사 및 SPR 현상에 따라 반사광(8)의 광량 변화를 광학 장치(51)를 통과시켜 검출 하는 검출 장치(50)를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.-
dc.title임계각 및 표면 플라스몬 공명각의 동시 측정 장치 및 방법-
dc.title.alternativeApparatus and method for simultaneous measurement of critical and surface plasmon resonance angle-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor김수현-
dc.contributor.nonIdAuthor오세백-
dc.contributor.nonIdAuthor홍영주-
dc.contributor.nonIdAuthor박효준-
dc.contributor.assignee한국과학기술원-
dc.identifier.iprsType특허-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2007-0033442-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-0870131-0000-
dc.date.application2007-04-04-
dc.date.registration2008-11-18-
dc.publisher.countryKO-
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