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Browse "School of Electrical Engineering(전기및전자공학부)" by Subject 이황화몰리브덴▼a트랜지스터▼a바이어스 스트레스 불안정성▼a문턱전압 변화▼a광전도 특성▼a전하 트랩

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유전체의 종류에 따른 Mo$S_2$ 트랜지스터의 게이트 바이어스와 빛에 대한 신뢰성에 관한 연구 = Gate-bias and illumination stress instability of Mo$S_2$ field effect transistors with several dielectricslink

김태근; 최성율; et al, 한국과학기술원, 2017

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