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Contactless wafer-level TSV connectivity testing and embedded current measurement using magnetic coupling = 자계 결합을 이용한 비접촉식 관통 실리콘 비아 연결성 테스트 및 전류 신호 측정link Kim, Jong-Hoon; 김종훈; et al, 한국과학기술원, 2013 |
Modeling and measurement analysis of through silicon via (TSV) and defects = 실리콘 관통 비아 및 결함의 모델링과 측정 분석link Jung, Daniel Hyun-Suk; 정현석; et al, 한국과학기술원, 2013 |
Proposal of TSV-based 3D clock distribution networks and analysis = 관통 실리콘 비아 기반 3차원 클락 분배망에 관한 연구link Kim, Da-Young; 김다영; et al, 한국과학기술원, 2012 |
Scalable modeling of a through silicon via (TSV) channel & proposal of the TSV equalizers in 3D IC = 집적화된 3차원 IC에서의 관통 실리콘 비아 채널의 모델링 및 이퀄라이져에 관한 연구link Kim, Joo-Hee; 김주희; et al, 한국과학기술원, 2010 |
Temperature-dependent through-silicon via (TSV) model and isolation characteristics = 온도에 의존하는 관통 실리콘 비아 모델과 아이솔레이션 특성link Lee, Man-Ho; 이만호; et al, 한국과학기술원, 2012 |
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