Browse "School of Electrical Engineering(전기및전자공학부)" by Author 이태윤
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| Analysis of fluorine effects on TANOS (TiN-$Al_2O_3$-$Si_3N_4$-$SiO_2$-polysilicon) memory devices for 3D NAND Flash = 3차원 낸드 플래시를 위한 타노스 메모리 소자에서의 플루오린 영향 분석link Lee, Tae Yoon; Cho, Byung Jin; et al, 한국과학기술원, 2019 |
| Reliability Improvement of Charge Trap Flash Memory Cell with Sealing Oxide in Fluorine Incorporation 이승환; 이태윤; 안현준; 이태인; 신의중; 신성원; 조병진, 제26회 한국반도체학술대회, DB하이텍, 한국반도체산업협회, 한국반도체연구조합, 2019-02-14 |
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