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Reliability Improvement of Charge Trap Flash Memory Cell with Sealing Oxide in Fluorine Incorporation 이승환; 이태윤; 안현준; 이태인; 신의중; 신성원; 조병진, 제26회 한국반도체학술대회, DB하이텍, 한국반도체산업협회, 한국반도체연구조합, 2019-02-14 |
Superior Carrier Mobility of Ge MOSFETs Depending on Channel Orientation with EOT of 0.57 nm Using Y-ZrO2/GeOx/Ge Stack 이태인; Nguyen, Manh-Cuong; 김민주; 안현준; 신의중; 이승환; 신성원; et al, 제27회 한국반도체학술대회, 연세대학교, 한국반도체산업협회, 한국반도체연구조합, 2020-02-13 |
Y 도핑된 ZrO2 고유전율 박막을 이용한 0.67 nm의 EOT와 매우 낮은 누설 전류를 가지는 Ge 기반 게이트 구조 이태인; 김민주; 안현준; 신의중; 이승환; 신성원; 황완식; et al, 제26회 한국반도체학술대회, DB하이텍, 한국반도체산업협회, 한국반도체연구조합, 2019-02-15 |
다중 게이트 트랜지스터 및 이를 이용한 뉴런 소자 조병진; 이규섭; 김형진; 신의중 |
멀티웨이 열 음향 스피커 구현을 위한 공진기 설계 박수연; 최정우; 신의중; 김충선; 조병진, 2017년도 한국소음진동공학회, 음향학회, 대한기계학회 동영학및제어부문 공동 학술대회, 한국소음진동공학회, 2017-04-28 |
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