Trap의 영향을 고려한 고주파 HEMT 잡음 모델링에 관한 연구

Abstract

이 논문에서는 고주파 HEMT의 잡음 모델링이 수행되어졌다. 제안된 잡음 모델링은 열잡음, 산탄 잡음, GR 잡음을 잡음 소스로서 모두 고려하여 좀더 낮은 GHz 주파수 영역에서 측정치와 일치하는 잡음 파라미터의 결과를 보였다. 이러한 모델링과 잡음 특성 분석을 위해서, 잡음 파라미터들이 측정되어지고, 이것들로부터 intrinsic 잡음 소스들이 추출되며, 이 잡음 소스 분석을 통해 GR 잡음을 추출할 수 있게 된다. 결국, GR 잡음의 분석을 통해 소자의 잡음 특성을 파악할 수 있으며, 특히, GaN HEMT에서 passivation 전후에 대한 비교를 통해 그 효과를 연구할 수 있었다.