직류와 교류 스트레스에 대한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 안정성 연구Reliability of polysilicon thin film transistors(TFT's) under DC and AC stresses
- Advisors
- 한철희researcher; Han, Chul-Hiresearcher
- Description
- 한국과학기술원 : 전기및전자공학전공,
- Publisher
- 한국과학기술원
- Issue Date
- 2001
- Identifier
- 165426/325007 / 000993328
- Language
- kor
- Description
학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기및전자공학전공, 2001.2, [ [iii], 53 p. ]
- Keywords
교류 스트레스; 열화; 다결정 실리콘 박막 트랜지스터; 안정성; 스트레스 전력; Stress Power; AC stress; TFT``s; Polysilicon Thin Film Transistors; Reliability
- Appears in Collection
- EE-Theses_Master(석사논문)
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