간섭무늬의 변화갯수 측정을 이용한 신호처리장치 및 그 방법SIGNAL PROCESSING DEVICE AND ITS METHOD
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 김병윤 | ko |
| dc.contributor.author | 김봉규 | ko |
| dc.contributor.author | 승우성 | ko |
| dc.contributor.author | 김만식 | ko |
| dc.date.accessioned | 2022-11-17T09:02:46Z | - |
| dc.date.available | 2022-11-17T09:02:46Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/299853 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 보통의 광학센서들과 달리 인가물리량에 대해 위상의 변화량을 크게 설계하여 일정시간동안 간섭무늬의 변화갯수를 세는 방법을 이용하여, 온도, 변화, 진동, 전자기파 등의 외부 영향에 대해 거의 관계없이 인가물리량의 크기를 측정하는 것이다. 또한, 간섭무늬의 변화갯수를 측정함으로서 인가물리량의 주파수에 상관없이 인가물리량의 크기와 파형을 측정할 수 있게 한 것이다. | - |
| dc.title | 간섭무늬의 변화갯수 측정을 이용한 신호처리장치 및 그 방법 | - |
| dc.title.alternative | SIGNAL PROCESSING DEVICE AND ITS METHOD | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 김병윤 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김봉규 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 승우성 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 김만식 | - |
| dc.contributor.assignee | 주식회사 엘에스,한국과학기술연구원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-1994-0020542 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-0122501-0000 | - |
| dc.date.application | 1994-08-19 | - |
| dc.date.registration | 1997-09-05 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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