파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템 및 이를 이용한 방법3D Refractive Index Tomogram and Structured Illumination Microscopy System using Wavefront Shaper and Method thereof
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박용근 | ko |
| dc.contributor.author | 신승우 | ko |
| dc.contributor.author | 박광식 | ko |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T16:41:02Z | - |
| dc.date.available | 2019-04-15T16:41:02Z | - |
| dc.date.issued | 2018-06-01 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10203/256142 | - |
| dc.description.abstract | 파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템 및 이를 이용한 방법이 제시된다. 파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템을 이용한 방법은, 파면 제어기(Wavefront Shaper)를 이용하여 샘플에 입사되는 평면파의 조사 각도를 조절하는 단계; 상기 평면파의 조사 각도에 따른 상기 샘플을 통과한 2차원 광학장을 측정하는 단계; 및 측정된 상기 2차원 광학장의 정보를 광회절 단층 촬영법(optical diffraction tomography) 또는 여과된 역투사 알고리즘(filtered back projection algorithm)을 이용하여 3차원 굴절률 영상을 획득하는 단계를 포함할 수 있다. | - |
| dc.title | 파면 제어기를 이용한 초고속 3차원 굴절률 영상 촬영 및 형광 구조화 조도 현미경 시스템 및 이를 이용한 방법 | - |
| dc.title.alternative | 3D Refractive Index Tomogram and Structured Illumination Microscopy System using Wavefront Shaper and Method thereof | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.localauthor | 박용근 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 신승우 | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박광식 | - |
| dc.contributor.assignee | 주식회사 토모큐브,한국과학기술원 | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2016-0072304 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1865624-0000 | - |
| dc.date.application | 2016-06-10 | - |
| dc.date.registration | 2018-06-01 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
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