X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 산란 보정 방법X-RAY COMPUTED TOMOGRAPHY SYSTEM AND SCATTER CORRECTION METHOD USING THE SAME

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본 발명은 X선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 산란 보정 방법에 관한 것으로, 피검체를 향하여 X선을 방사하는 X선 발생원과, 상기 X선 발생원과 상기 피검체 사이에 배치되며, 그 길이방향이 상기 피검체의 원형 스캔 회전축과 평행하게 배열된 복수의 스트립 살과 빈 공간부가 교대로 배치되어 상기 X선 발생원에서 방사되는 X선의 일부를 차단하는 빔차단 스트립과, 상기 피검체를 사이에 두고 상기 X선 발생원과 대향하도록 배치되며, 상기 빔차단 스트립 및 상기 피검체로 인해 X선 산란된 영상을 포함한 X선 투과영상 데이터를 검출하는 평판형의 다열 X선 검출기와, 상기 피검체를 원형 스캔하고, 상기 다열 X선 검출기로부터 검출된 X선 투과영상 데이터를 제공받아 상기 스트립 살의 배열과 수직방향의 X선 검출기 각 열마다 1차원적인 산란보정을 수행하여 추정산란영상 데이터를 획득한 후, 상기 검출된 X선 투과영상 데이터에서 상기 획득된 추정산란영상 데이터를 제거하여 산란보정 투과영상을 획득하고, 상기 획득된 산란보정 투과영상을 기반으로 역투영 필터링 방법을 이용하여 영상재건을 통해 산란보정 후 재건된 단층영상을 획득하는 산란영상 보정장치를 포함함으로써, 추가적인 스캔에 따른 추가 피폭(exposure)을 피할 수 있으며, 영상 왜곡 없이 산란 오차를 크게 줄일 수 있는 효과가 있다.
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Issue Date
2013-04-10
Application Date
2011-06-15
Application Number
10-2011-0057932
Registration Date
2013-04-10
Registration Number
10-1255224-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/234078
Appears in Collection
NE-Patent(특허)
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