광 산란 패턴 검출 장치 및 광 산란 패턴 검출 방법 APPARATUS FOR DETECTING LIGHT SCATTERING PATTERN AND METHOD FOR DETECTING LIGHT SCATTERING PATTERN

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샘플에 대한 광 산란 패턴을 검출하는 광 산란 패턴 검출 장치가 제공된다. 일 실시 예에 의한 광 산란 패턴 검출 장치는, 상기 샘플에 빛을 조사하는 빛 소스, 상기 샘플로부터 산란되는 빛의 산란 패턴을 검출하는 검출기, 상기 샘플에 대한 빛의 조사 각도 및 파면 패턴 중 적어도 하나를 변경시키는 파면 제어기 및 복수 개의 변경된 조사 각도 각각에서 검출되는 복수 개의 산란 패턴을 합성하는 프로세서를 포함한다.
Assignee
한국과학기술원
Country
KO (South Korea)
Issue Date
2015-02-04
Application Date
2013-11-15
Application Number
10-2013-0139105
Registration Date
2015-02-04
Registration Number
10-1492343-0000
URI
http://hdl.handle.net/10203/233425
Appears in Collection
PH-Patent(특허)
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