플래시 메모리 출력 데이터의 통계적 분석 기법Statistical analysis of flash memory read data
- Advisors
- 문재균researcher; Moon, Jae-Kyun
- Description
- 한국과학기술원 : 전기 및 전자공학과,
- Publisher
- 한국과학기술원
- Issue Date
- 2011
- Identifier
- 482793/325007 / 020093167
- Language
- kor
- Description
학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기 및 전자공학과, 2011.8, [ vi, 42 p. ]
- Keywords
낸드 플래시 메모리; 통계적 데이터 분석; 간섭; NAND flash memory; statistical data analysis; interference; noise; 잡음
- Appears in Collection
- EE-Theses_Master(석사논문)
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