방사선 환경하에서의 CMOS소자의 피폭 및 어닐링 메카니즘에 관한 연구

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Issue Date
1999
Language
KOR
Citation

전력기술 기초연구 성과발표 논문집, pp.476 - 477

URI
http://hdl.handle.net/10203/136244
Appears in Collection
NE-Conference Papers(학술회의논문)
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